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離線Low-E玻璃鍍膜質量控制

來源:中國幕墻網收集整理  作者:*  日期:2015-3-13
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  Low-E玻璃又稱低輻射鍍膜玻璃,是在玻璃表面鍍上以銀為基礎的若干層金屬或其化合物薄膜,這些膜層具有對可見光高透過及對中遠紅外線高反射的特性,具有良好的節能效果和光學性能。

  Low-E玻璃又稱低輻射鍍膜玻璃,是在玻璃表面鍍上以銀為基礎的若干層金屬(詞條“金屬”由行業大百科提供)或其化合物薄膜(詞條“薄膜”由行業大百科提供),這些膜層具有對可見光高透過及對中遠紅外線高反射的特性,具有良好的節能效果和光學性能。真空磁控濺射法(PVD(詞條“PVD”由行業大百科提供))也稱離線法,可以實現復雜膜系Low-E玻璃的大規模量產,成為近年來Low-E玻璃的主流生產工藝。

  相比傳統的熱反射鍍膜玻璃,Low-E玻璃的鍍膜層數多也更薄,特別是近年來雙銀/三銀Low-E玻璃的推廣,有的產品需要沉積多達20多層不同材料的薄膜,這就對每層薄膜的質量和均勻性提出了非常苛刻的要求。如果不能很好的控制單層薄膜的質量和均勻性,這么多層薄膜累加后的顏色、透光率等光學不均勻性就會非常明顯。因此對現有的PVD鍍膜工藝來說,提高鍍膜的質量和均勻性是一個非常關鍵的課題。

  1 工藝氣體布氣均勻性

  作為膜層均勻性控制的主要手段之一,工藝氣體布氣均勻性非常重要。我們采用如下二種方法確保工藝氣體沿玻璃板寬方向分布的均勻性:

  1)布氣管路分為主管和輔管,主管由3個質量流量計分別控制Ar、O2、N2氣的供氣量,輔管根據陰極寬度分為3~7段,每段由一個質量流量計單獨控制工藝氣體流量,見圖1。

  2)主管和每段輔管均采用二元布氣方式(見圖2),確保每個噴嘴的流導一致。

  2 陰極磁場強度一致性

  根據磁控濺射的原理,磁場強度越大,其對電子的束縛能力越強,相應地,該處的氣體離化程度就越高,濺射速率也就越大。精確的調整陰極磁鐵的磁場強度在寬度方向的一致性,可以有效地控制濺射速率的橫向一致性,進而控制薄膜沿寬度方向的均勻性。

  陰極磁場強度的均勻性的控制手段包括以下2個:

  1)為確保磁場的強度一致性,需要對所用磁鐵的磁場強度進行挑選,盡量選擇磁場強度一致的磁鐵。陰極裝配完畢后,采用高斯計沿陰極橫向對磁場強度進行掃描測量,繪出磁場強度曲線,可采用調整磁鐵到靶材距離的方法微調該處磁場強度,確保磁場沿陰極橫向的一致性。

  2)陰極使用過程中應嚴格控制冷卻水溫,并及時更換靶材,防止永磁體過熱,因其過熱不僅會導致磁場強度衰減,也會造成磁場不均現象。

  3 鍍膜室真空度、溫度、干燥度控制

  3.1 恒定的真空度

  1)根據工藝氣體流量,對分子泵抽速、數量配置和安裝位置進行合理配置。

  2)完善可靠的腔室密封,所有的動密封如傳動站、翻版閥等處均采用磁流體密封,蓋板和腔室之間采用壓差密封,即對兩道密封圈之間的空間抽真空,從而提高大型密封面的密封效果。

  3)進出片過渡室內部各布置2~3套阻流器,減少閥開啟閉合對鍍膜室內真空度的擾動。

  3.2 溫度控制

  陰極及鍍膜室腔體通軟化水冷卻,并對進出水的溫度和流量進行監控。

  3.3 干燥度控制

  1)玻璃清洗完畢后應確保干燥充分。

  2)生產線旁應布置干燥壓縮空氣(CDA)儲氣罐,在空氣濕度大的時候,進出片室在充氣時可選擇接通CDA,以減少進入腔室內的水蒸氣分子。

  3)在鍍膜室入口處設置低溫冷阱,用于捕獲進入腔室內的水蒸氣分子。

  4 靶材中毒及打弧現象的抑制

  反應濺射產生的氧化(詞條“氧化”由行業大百科提供)物會在靶材刻蝕區附近再沉積,形成一層絕緣層,絕緣層上會積累正離子電荷而改變靶表面電勢,造成濺射速率下降,當靶表面電勢升高到一定程度時,會引發電弧放電,放電會破壞靶和膜層,這就是靶材“中毒”現象,如圖3所示。

  目前,解決這個問題的常用方法是采用雙旋轉陰極和交流電源組合,(參見圖3),由于旋轉陰極的靶是旋轉的,靶材的刻蝕均勻的分布于整個靶筒的表面,可以避免反應濺射中由于再沉積而形成絕緣層。另外,中頻電源分別與兩個磁控管相接,使得兩個靶互為陰陽極,并隨著中頻電源的電勢和相位每半個周期變換一次,這樣,磁控管就可以捕獲電子,改變再沉積區域的表面電勢,進而起到抑制電弧的作用。關于這一技術的詳細論述,請讀者參見文獻一。

  5 不同靶位間反應氣體的隔離

  由于Low-E膜的膜系復雜,現代連續式鍍膜線通常布置有10~30個靶位,對于采用不同工藝氣體的濺射單元之間,應采取嚴格的氣體隔離措施,否則會使得各靶位間產生不必要的交叉污染,造成膜層質量下降。以圖4所示為例進行說明:

  如圖4所示,假定右一單元是Ag靶(平面靶),采用金屬模式濺射并生成Ag膜,左三單元為旋轉靶,加入O2進行反應濺射,生成氧化物膜。Ag在濺射時不能接觸O2,否則會產生AgO,影響膜層的光學性能和輻射率,并最終導致Low-E膜質量下降。這種情況下,就需要對兩個靶位間的氣體進行嚴格的隔離,圖示中右二和右三單元設置為氣體隔離單元,布置有分子泵蓋板和氣體隔離組件,能夠有效阻止反應氣體O2從左三單元滲透到右一單元。而對于左二和左三的旋轉靶,用于采用同一種工藝氣體,則可以相鄰放置,不會影響膜層質量。模塊化的鍍膜室結構設計有助于上述功能的實現,因鍍膜室各單元結構和尺寸一致,可實現陰極和分子泵蓋板位置的完全互換,有利于用戶依據不同膜系要求對機組進行柔性配置。

  6 結語

  影響Low-E鍍膜質量和均勻性的因素很多,文章重點論述了通過提升鍍膜設備硬件配置來提高鍍膜質量,其他還有諸如:玻璃原片質量及新鮮度、玻璃清洗質量、靶材質量、鍍膜室清潔度、工藝操作水平等因素。因此,提高Low-E鍍膜質量是一個系統工程,不僅需要高水平的設備硬件配置,也需加強對生產中各個環節的管理,同時還應強化工藝人員的操作水平,從硬件和軟件兩方面保證高水平的Low-E鍍膜質量的實現。

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原文地址:http://www.52mqw.com/info/2015-3-13/38849-1.htm
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