
圖4和圖5是電子探針測量的待測的2個浮法玻璃樣品的滲錫深度曲線,圖中的“+”代表實驗點,曲線為理論計算曲線,根據此理論曲線即可得到樣品的滲錫量,即表1中最后1列數據,這測量值有一范圍,原因是理論曲線和實驗曲線的擬合時,有一調整范圍。表1的第1列中L和H分別代表低溫和高溫熱處理樣品;第2列為相應樣品的彩虹參數測量值;第3列為低溫和高溫標準曲線得到的滲錫量;第4列為3次滲錫量測量值的平均及其標準偏差,括號中代表相當標準偏差。

從表1可以看出,滲錫量的光學測量值與電子探針測量值是符合的,但稍稍偏高,原因是浮法玻璃的滲錫深度曲線不是平滑遞降的理論曲線,而是帶有衛星峰的曲線[6] ,平滑遞降的理論曲線下的面積總是小于實驗曲線下的面積,而理論曲線下的面積就是滲錫量的電子探針測量值[1,2,5] ,即滲錫量的電子探針測量值比真實值低。光學法就沒有這問題,玻璃中有多少錫離子,彩虹參數中就包含多少二價錫離子的貢獻,這就是光學法測量值稍高于電子探針法測量值的原因。
四 結論
本文實驗證實,浮法玻璃的彩虹參數和滲錫量之間存在直線關系;實驗也證實,利用這直線關系和彩虹參數的測量值就可以得到浮法玻璃的滲錫量。
本文建立浮法玻璃滲錫量的光學測量方法:
測量范圍:
(1) 770℃高溫處理為(0.05~0.3)g/㎡;
。2) 750℃低溫處理為(0.3~0.6)g/㎡。
測量精度:相對標準偏差不大于?2.2%。
1. 參考文獻
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